Vybrané publikace

Spoluautorství patentů:

    Tescan Orsay holding, a.s. Scintilační detekční jednotka pro detekci zpětně odražených elektronů pro elektronové nebo iontové mikroskopy. Původci: M. Zadražil, S. DOKULILOVÁ, K. BLAŽEK, P. HORODYSKÝ. Spojené státy americké. Patentový spis US8779368, patent udělen v r. 2014. Dostupné také na: http://www.google.com/patents/US8779368

    Tescan Orsay holding, a.s. Způsob analýzy materiálů fokusovaným elektronovým svazkem s využitím charakteristického rentgenového záření a zpětně odražených elektronů a zařízení k jeho provádění. Původci: D. Motl, S. Dokulilová, Vojtěch Filip. Česká republika. Patentový spis CZ301692, patent udělen v r. 2012. Dostupné také na: http://spisy.upv.cz/Patents/FullDocuments/303/303228.pdf

Tescan Orsay holding, a.s. Způsob optimalizace sestavení a nastavení systému pro odprašování povrchu vzorku fokusovaným iontovým svazkem a pro detekci zpětně difraktovaných elektronů a takto navržený systém. Původci: M. Zadražil, F. Lopour, P. Tichopádek, T. Hrnčíř, S. Dokulilová. Česká republika. Patentový spis CZ301692, patent udělen v r. 2010. Dostupné také na: http://spisy.upv.cz/Patents/FullDocuments/301/301692.pdf

Z popularizační činnosti v oblasti patentové problematiky:

Dokulilová, Silvie: Srovnání průběhu patentového řízení před USPTO a EPO na příkladu konkrétní patentové přihlášky z oblasti elektronové mikroskopie. In: Veletrh Věda, výzkum, inovace, 9.-11.3.2016: Sborník příspěvků z konference, ISBN 978-80-260-9322-0



Přeskočit na obsah

  • Úvod
  • Co nabízíme
  • Kdo jsme
  • Publikace
  • Kontakt
  • Ochrana osobních údajů